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JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡NEOARM” 標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統，可以自動進行快速準確的像差校正。
JEM-Z300FSC場發射冷凍電子顯微鏡 場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(Ω能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統內最多可以存儲12個樣品，可以任意取出和交換一個或數個樣品，能靈活地進行測試排序。
JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術整合在一起，實現了高度穩定性和高分辨率，以精煉的外觀設計呈現。該設備做成了操作流程菜單，按照該菜單，操作人員即使不直接操作設備也能采集到數據。
JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡 JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產品，該設備在性能上有了進一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。
JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II 場發射冷凍透射電子顯微鏡 CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質等對電子束敏感的樣品，可進行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實驗。
JEM-Z200MF無磁場透射電子顯微鏡 JEM-Z200MF是一款無磁場物鏡的電子顯微鏡，可以在不向樣品施加強磁場的情況下實現高分辨率觀察。結合高次像差校正器，可以實現原子級分辨率成像。
XD-1000光譜分析儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件 的膜厚，可選配自動平臺實現 XYZ 軸編程位移，實現無人值守多點測量，測量軟件置入* 的 EFP 算法及解譜技術，解決了諸多業界難題。
XAU熒光光譜分析儀XAU 是一款一機多用型光譜儀，應用了*的 EFP 算法和微光聚集技術，既保留了專用 測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。 被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。
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