設備簡介
KC3110功率半導體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規(guī)級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發(fā)。本系統(tǒng)可以在3KV和1000/2000A的條件下實現精確測量和參數分析，漏電流測試分辨率高達fA級，電壓測試分阱率最高可這nV級，以及3000V高壓下的寄生電容的精密測量。全自動程控軟件，圖型化上位機操作界面。內置開關切換矩陣保證測試效率。模塊化結構設計預留升級擴展?jié)撃?。測試接口可外掛各類夾具和適配器，還能夠通過專用接口連接各種Handler：如分選機、機械手、探針臺、編帶機等。
適用產品
可測Si, SiC, GaN材料的IGBTs, DIODEs, LED, MOSFETs, BJTs, HEMTs, 電容，光耦，
參考標準
IEC 60747-8/9 半導體分立器件第8/9部分/JEDEC標準
設備特點
KC-3110系 統(tǒng) 包 含 ： 硬 件 平 臺 + 實 時 軟 件 ， 可 測 試 靜態(tài)特性、IV 曲線、容阻測試（Rg、Cxss）、CV 曲線；，主要特點如下:
適用于功率器件、功率模塊直流特性分析，最高可達3000V/1000A在高達3000V直流偏置下，完全自動化的電容（ Ciss、 Coss、Crss等）測量；
高效率：內置開關矩陣，自動切換測量單元，提高生產測試效率；
模塊化：根據測試需求搭配不同規(guī)格測量單元。
在線高低溫箱:選裝-50℃~﹢150℃(最高 200℃)專用高精度實時在線高低溫箱，支持 48 工位和 98 工位。圓形旋轉盤，溫度均勻性優(yōu)秀選配溫控模塊也可與第三方溫箱實現聯動控制。
具備數據管理功能，上位機可實現數據曲線、報告及自動保存；
IV曲線：2K點以內的 IV 曲線實時掃描；
CV曲線：柵電阻 Rg、反向傳輸電容 Cres、輸入電容 Cies、輸出電容 Coes、CV 曲線
軟件界面
軟件功能完備并高可擴展性，基于LINUX平臺開發(fā)，穩(wěn)定高效、配備工控機。 保存與記錄試驗數據.
數據管理功能完整，具有操作界面與上位機，可實現數據自動保存與生成測試報告
技術參數
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您好！上述產品資料僅列舉部分主要測試功能，設備全部支持的項目不在此處詳細列舉，
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